Продам Тестовая система TR-17 Б/У в Екатеринбурге

Для аналогового и цифрового внутрисхемного тестирования.
- внутрисхемное аналоговое тестирование: коротких замыканий (КЗ) и обрывов цепей, номиналов резисторов, конденсаторов и индуктивностей, установленных полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, транзисторов), трансформаторов, включая согласование обмоток, установленных микросхем по входным защитным диодам, качества пайки микросхем емкостным методом и т.д.
- внутрисхемное цифровое тестирование: контроль цифровых микросхем на соответствие таблице истинности. Для исключения влияния параллельно установленных микросхем (например при наличии шинной технологии) на вход тестируемой микросхемы подаются импульсы большого тока с огранич